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[单选题]

测量粘片胶厚度时,应测量芯片表面那几个点?()

A.芯片中心一个点

B.芯片对角线两个点

C.芯片四个角四个点

D.芯片任意位置一个点

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第1题

测量粘片胶厚度时,应在芯片表面测量()点。

A.芯片中心一个点

B.芯片对角线的两个点

C.芯片四个角的四个点

D.芯片任意位置取一点

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第2题

测量粘片胶厚度时,应在芯片表面测量()点。

A.芯片中心一个点

B.芯片对角线的两个点

C.芯片四个角的四个点芯片任意位置取一点

D.芯片的铝垫上

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第3题

测量粘片胶厚度时,应在芯片表面测量哪几个点?()

A.芯片中心一个点

B.芯片对角线的两个点

C.芯片四个角的四个点

D.芯片任意位置取一点

E.芯片的铝垫上

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第4题

以下哪些会造成芯片表面粘片胶沾污?()

A.吸嘴

B.点胶头选择不当

C.机器missingdiedetectsensor出错

D.粘片胶攀爬高度超过芯片厚度

E.渗漏的装片胶溅散到晶圆表面造成沾污

F.三点一线偏移

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第5题

装片点胶不良是指()。

A.点胶时芯片表面胶量太少没有完全覆盖芯片表面

B.除了引线框基岛正面,引线框的其它区域有保护胶沾污

C.点胶过程造成金丝变形

D.保护胶高度太高

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第6题

双芯片产品加工时应注意()。

A.核对流程卡备注栏要求粘片

B.先粘B芯片,再粘A芯片

C.先粘导电胶的芯片,再粘绝缘胶的芯片

D.根据所配芯片加工

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第7题

粘片机菜单中,InkDie和DefectiveDie分别是指()。

A.墨点芯片和坏芯片

B.坏芯片和墨点芯片

C.好芯片和墨点片

D.墨点片和好芯片

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第8题

参考点应尽量选择晶圆对角线上的(),并在上面用打点笔做上标记便于寻找,不允许将参考点定义在完好芯片位置。

A.好芯片

B.不完整芯片

C.特殊坏芯片

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第9题

在粘片机中searchdie是指()。

A.丢失芯片

B.捡拾芯片

C.搜索芯片

D.芯片步进

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第10题

粘片胶空洞可能由以下()因素引起。

A.画胶图形不规范,造成芯片底面粘片胶填充不足

B.画胶图形不规范,造成芯片底面粘片胶填充不足

C.粘片胶性能异常

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