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[多选题]

造成上芯粘取墨点芯片的原因有()。

A.WaferPR设置不当

B.DISPPR设置不当

C.芯片来料异常

D.BondPR设置异常

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第1题

造成芯片划伤;压伤的潜在原因有()。

A.吸嘴表面粘有异物

B.粘接高度设置不当

C.粘接延时设置不当

D.捡拾延迟设置不当

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第2题

造成芯片划伤;压伤的潜在原因有()。

A.来料芯片表面存在损伤

B.吸嘴表面沾有硅渣

C.外来物,银浆压伤芯片

D.银浆过小,产品传递或设备调试不当造成芯片划伤

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第3题

上芯若发现有()的不良品,打叉时必须把芯片涂黑

A.沾污

B.芯片压伤划伤

C.芯片光刻不足

D.粘墨点片

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第4题

造成芯片划伤;压伤的潜在原因有()。

A.来料芯片表面存在损伤

B.吸嘴表面沾有硅渣,外来物,银浆而压伤芯片

C.设备气路管道,钢嘴中有长期积累的硅渣、银浆固化物未及时清洁,在粘片过程中掉落在芯片表面造成压伤

D.产品传递或设备调试不当造成芯片划伤

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第5题

粘片机菜单中,InkDie和DefectiveDie分别是指()。

A.墨点芯片和坏芯片

B.坏芯片和墨点芯片

C.好芯片和墨点片

D.墨点片和好芯片

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第6题

造成芯片位置不良的因素有()。

A.芯片位置调整错误(角度、方向、位置超出压焊图及质量标准要求)

B.上芯设备调试不当

C.因装片胶中有异物等原因导致芯片不平整(平整度大于1mils)

D.上芯后产品传递不规

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第7题

造成芯片银浆沾污的原因有()

A.点胶气压太大

B.吸嘴与芯片尺寸不匹配

C.点胶参数设置不当

D.上芯压条偏移

E.三点偏移

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第8题

造成芯片位置不良的因素有()。

A.芯片位置调整错误(角度、方向、位置超出压焊图及质量标准要求)

B.上芯设备调试不当

C.因装片胶中有异物等原因导致芯片不平整(平整度大于1mils)

D.引线框架上料未核对方向

E.上芯后产品传递不规范

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第9题

下列属于上芯造成的产品异常的是()。

A.粘墨点

B.划偏

C.晶圆碎裂

D.墨点脱落

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第10题

上芯晶圆上墨点芯片的打点直径不得小于()um,不允许打()。

A.200

B.100

C.红色墨点

D.黑色墨点

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