在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（)。

A.反射和折射

B.反射和衍射

C.直射和反射

D.直射和折射

A.使隔声层垂直于探头扫查方向

B.使隔声层垂直于探头扫查方向

C.使隔声层与探头扫查方向呈45°夹角

D.以上均可

A.润滑接触面尽量减少探头磨损

B.排除探头与探测面间的空气，否则几乎使超声波完全反射

C.晶片与探测面直接接触时就不会振动

D.使探头可靠地接地

A.探头在探测面上沿一直线移动扫查的位置坐标

B.声波的传播时间(或距离)

C.反射波的声压幅度

D.透射波的声压幅度

A.有效探测

B.有效工作

C.有效作业

D.手工探测

A.用K0.8-K1探头从钢轨踏面上对焊缝轨腰（2区）进行串列式扫查。

B.用K0.8-K1探头从轨头侧面和轨底侧面对焊缝的轨头（1区）、轨底部（3、4区）位进行K型扫查。

C.也可用K2.5或70°横波探头从轨头侧面对焊缝的轨头部位进行K型扫查

D.也可用K4.5或47°横波探头从轨头侧面对焊缝的轨头部位进行K型扫查

A.平行

B.成45°角

C.垂直

D.成60°角

A.增加

B.减小

C.不变