THDS（哈科所)红外轴温探测系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。（)

THDS（哈科所)红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。（)

THDS（哈科所)红外轴温探测系统，如果报元温故障，现象是与正常值偏离较大,可能是探头温控板故障。（)

THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的（）

THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定可能是原因造成（）

THDS（哈科所)红外轴温探测系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。（)

THDS（哈科所)红外轴温探测系统，元件温度与正常值偏离较大，则用万用表测量探头温控板输出，如果换算出的温度与正常值相差很大，则更换AD采集板。（)

THDS（哈科所)红外轴温探测系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障。（)

THDS（哈科所)红外轴温探测系统，如果报双侧元温故障，正确的解决办法是检查探头。（)

THDS（哈科所)红外轴温探测系统如果在校零状态下，探头输出不为1V，可能是校零板故障。（)

THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，如果报元温故障，现象是与正常值偏离较大,可能是探头温控板故障（）